tester EPROM-ów

[ Pobierz całość w formacie PDF ]
M I N I P R O J E K T Y
Wspólną cechą układów opisywanych w dziale "Miniprojekty" jest łatwość ich praktycznej
realizacji. Na zmontowanie i uruchomienie układu wystarcza zwykle kwadrans. Mogą to być
układy stosunkowo skomplikowane funkcjonalnie, niemniej proste w montażu i uruchamianiu, gdyż
ich złożoność i inteligencja jest zawarta w układach scalonych. Wszystkie projekty opisywane w
tej rubryce są wykonywane i badane w laboratorium AVT. Większość z nich wchodzi do oferty
kitów AVT jako wyodrębniona seria “Miniprojekty” o numeracji zaczynającej się od 1000.
Tester EPROM−ów
PamiÍci EPROM,
w†porÛwnaniu z†pamiÍ-
ciami EEPROM, posia-
daj¹ obecnie juø tylko
dwie zalety: nisk¹ cenÍ
zakupu i†powszechn¹
dostÍpnoúÊ. W†uøyciu
s¹ doúÊ k³opotliwe,
a†szczegÛlnie nie-
wygodne jest ich
kasowanie. Powo-
duje to, øe w†na-
szych szufla-
dach gromadz¹
siÍ nieraz pokaüne
zapasy zaprogramowa-
nych i†nie skasowanych
pamiÍci, przemieszane z†ele-
mentami gotowymi do na-
tychmiastowego, powtÛrnego
zaprogramowania. Propono-
wany tester powinien dopo-
mÛc w†uporz¹dkowaniu tego
ba³aganu i†umoøliwiÊ szybkie
posegregowanie posiadanych
EPROM-Ûw.
utrzy-
muj¹cy siÍ
przez chwilÍ na
kondensatorze C4, po-
woduje wyzerowanie
obydwÛch przerzutnikÛw R-
S i†wszystkich licznikÛw
wchodz¹cych w†sk³ad uk³a-
du. Po wyst¹pienie stanu
niskiego na wejúciu RST
licznika - generatora 4060,
rozpoczyna on pracÍ i†na
wejúcia adresowe pamiÍci
EPROM, umieszczonej
w†podstawce CON1, poda-
wane s¹ kolejne liczby bi-
narne. Po przepe³nieniu
licznika IC3 rozpoczynaj¹
pracÍ po³¹czone z†nim sze-
regowo liczniki IC1A i†IC1B,
aø do momentu pojawienia
siÍ stanu wysokiego na wy-
júciu Q2 licznika IC1B.
WÛwczas nast¹pi ustawienie
przerzutnika R-S zbudowa-
nego na bramkach NOR
IC4A i†IC4B oraz w³¹czenie
zielonej diody zawartej
w†strukturze D1. Jest to syg-
na³, øe przetestowana pa-
miÍÊ nie jest zaprogramowa-
Opis dzia³ania
Schemat elektryczny
uk³adu testera pamiÍci EP-
ROM przedstawiono na
rys.
1
. Opis dzia³ania uk³adu
rozpoczniemy od momentu
w³¹czenia zasilania, kiedy to
krÛtkotrwa³y stan wysoki,
Rys. 1.
Elektronika Praktyczna 9/99
69
Uk³ad, ktÛrego
budowÍ chcia³bym
dzisiaj zaproponowaÊ
Czytelnikom Elektroniki
Praktycznej moøe
w†znacz¹cy sposÛb
u³atwiÊ øycie
konstruktorÛw, ktÛrzy
w†swoich pracach
czÍsto wykorzystuj¹
pamiÍci
reprogramowalne
EPROM. Tester
umoøliwia jednoznaczne
stwierdzenie, czy
badana pamiÍÊ jest
zaprogramowana, czy
teø na jej wyjúciach
danych wystÍpuj¹
wy³¹cznie same ìFFî.
M I N I P R O J E K T Y
Montaø i†uruchomienie
Na
rys. 2
pokazano roz-
mieszczenie elementÛw na
p³ytce obwodu drukowane-
go wykonanego na lamina-
cie dwustronnym z†metali-
zacj¹.
Montaø tak prostego
uk³adu nie sprawi z†pew-
noúci¹ nikomu k³opotu, nie
zajmie wiÍcej niø kilkana-
úcie minut, ale przed jego
rozpoczÍciem bÍdziemy mu-
sieli podj¹Ê jedn¹, waøn¹
decyzjÍ. Chodzi tu o†rodzaj
podstawki CON1, jak¹ zasto-
sujemy w†naszym testerze.
WybÛr powinien zaleøeÊ od
liczby pamiÍci EPROM, jak¹
bÍdziemy w†przysz³oúci
sprawdzaÊ. Jeøeli przewidu-
jemy, øe zbudowany tester
bÍdzie bardzo czÍsto wyko-
rzystywany, to warto zasto-
sowaÊ w†uk³adzie podstaw-
kÍ typu ZIF, umoøliwiaj¹c¹
b³yskawiczn¹ wymianÍ
sprawdzanych uk³adÛw. Jed-
nak podstawka taka jest bar-
dzo kosztowna i†jeøeli prze-
widujemy jedynie spora-
dyczne korzystanie z†teste-
ra, to uzasadnione ekono-
WYKAZ ELEMENTÓW
Rezystory
R1, R2, R5: 100k
Ω
R6, R7, R8: 1k
F/10V
C3, C4: 100nF
Półprzewodniki
IC1: 4520
IC2: 4068
IC3: 4060
IC4: 4001
IC5: 4011
D1: LED dwubarwna
Różne
CON2: ARK2 (3,5mm)
Podstawki pod układy
scalone + podstawka
precyzyjna DIP28 jako CON1
P³ytka drukowana wraz z kom-
pletem elementÛw jest dostÍpna
w AVT - oznaczenie AVT-1236.
Urz¹dzenie nie testuje
pamiÍci 2716 i 2732.
Rys. 2.
na i†na wszystkich jej wy-
júciach, pod kaødym adre-
sem, panowa³y stany wyso-
kie.
Rozpatrzmy teraz co siÍ
stanie, jeøeli jednak pamiÍÊ
by³a zaprogramowana i†jeøeli
chociaøby w†jednej z†jej ko-
mÛrek wystÍpuje stan niski.
Zaistnienie takiej sytuacji
spowoduje wyst¹pienie stanu
wysokiego na wyjúciu oúmio-
wejúciowej bramki NAND IC2
i†w†konsekwencji ustawienie
drugiego przerzutnika R-S,
zbudowanego na bramkach
IC4C i†IC4D. Tym razem w³¹-
czona zostanie czerwona sek-
cja diody D1, co wyraünie za-
sygnalizuje, øe pamiÍÊ EP-
ROM jest zaprogramowana
i†wymaga kasowania. Jedno-
czeúnie zablokowana zostanie
bramka IC5A, co uniemoøli-
wi w³¹czenie obydwu diod
LED po skoÒczeniu testowa-
nia pamiÍci.
Tester powinien byÊ zasi-
lany napiÍciem sta³ym stabi-
lizowanym o†wartoúci 5V.
micznie jest zastosowanie
znacznie taÒszej podstawki
precyzyjnej.
Jarosław Tomaszewski
70
Elektronika Praktyczna 9/99
R4, R3: 220
Kondensatory
C1: 22pF
C2: 220
[ Pobierz całość w formacie PDF ]